阻变存储器三维集成阵列中的热效应研究

2015中国(国际)功能材料科技与产业高层论坛——阻变存储器是以材料的电阻可在高低阻态间实现可逆转换为基础。阻变器件在电压作用下工作时,由于焦耳热的作用将导致器件自身温度发生变化,因此,由焦耳热引起的热效应在半导体器件中是一种普遍现象。


关键词: 阻变存储器 三维集成阵列 热效应 2015中国(国际)功能材料科技与产业高层论坛

主讲人:副研究员 卢年端 机构:中国科学院微电子研究所

时长:0:16:19 年代:2015年