Symbolic Fault Modeling for Switched-Capacitor Circuits
IEEE TENCON 2013——A symbolic construction method allowing for parameter limit operation is proposed. Switched-capacitor circuits can be analyzed with this method by creating a symbolic zdomain transfer function represented in the form of a Binary Decision Diagram (BDD). Manipulating the symbols in BDD can simulate a variety of circuit faults, such as switch faults, capacitor faults, and opamp gain faults. Implementation methods are presented and illustration examples are provided.
关键词： 二元决策图 操纵符号 开关电容电路 象征性的分析 IEEE TENCON 2013
主讲人：Jiandong Cheng 机构：Shanghai Jiao Tong University
时长：0:16:21 年代：2013年
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